新闻详情

激光位移传感器用于高端屋瓦几何检测-opto

     高端屋瓦生产企业要求在生产过程中,测量屋瓦的外形几何尺寸,以确保产品的一致性和超高品质。激光位移传感器被用于屋瓦3D检测和表面评估。激光位移传感器optoNCDT1750被安装于旋转,可移动的卡具中。激光位移传感器按照预定的检测路线移动,采集屋瓦的纵向和横向几何尺寸信息,可以检测复杂几何形貌和特定尺寸公差。
     激光位移传感器还可以用于表面粗糙度的检测。调整和优化激光位移传感器到屋瓦的距离,记录激光微小光斑的直径。对于大规模测量,需要采用抽样算法(如每mm采样40个测量结果),可以得到粗糙度结果。由于optoNCDT 1750激光位移传感器采用了2级半导体激光光源,无需对激光做额外特殊防护。
优势
     最新技术,之前传统方法无法检测的参数,如表面粗糙度可以被客观评价,并被直接纳入到生产环节中。
     采用激光位移传感器之前,类似检测需要将屋瓦送检到中央检测实验室,并需要等待很长时间才能得到测量结果。
     检测速度获得大幅度提高
     系统化产品质量问题会在最短的时间内被检测出来
检测系统要求
大量程 (> 40mm) ,以确保屋瓦的几何尺寸在一个工序内就可以获得,无需调整传感器位置。
对于短期检测,可以实现高采样频率 (5000次采样 / s)
高精度 (线性度可达60µm) ,用于轮廓扫描
高分辨率 (<3µm), 用于表面粗糙度检测
传感器可以适应不同规格屋瓦的颜色和材料变化
用于测量和表面评估的传感器
激光位移传感器optoNCDT1750
控制器带RS422接口